Matériau PZT en céramique piézoélectrique

Lorsquecristal de plaque piézoélectriqueLa concentration de dopage de matériau en céramique piézoélectrique Mn est faible, Mn pénètre principalement dans le réseau cristallin,capteur de pression du transducteur piézoélectriquedéforme le réseau cristallin et favorise le frittage du matériau en céramique piézoélectrique qui conduit à la croissance des grains. Cependant, lorsque le contenu Mn atteint une certaine valeur, MnFiche technique de plaque piézoélectriques'accumule aux joints de grains, épinglant les joints de grains, entravant la croissance des grains et réduisant la taille des grains des échantillons. Il peut également être vu à partir de l'image électronique secondaire transversale de l'échantillon qui à mesure que la quantité de dopage Mn augmente, la résistance de la mesure de déplacement du transducteur piézoélectrique diminue parce que la plupart des grains sont brisés lorsqu'ils brisent l'échantillon, ce qui peut être lié au volume d'effet de résistance, mais le facteur le plus important peut être le dopage du MN. Les propriétés diélectriques du transformateur ultrasonique du disque piézoélectrique sont des courbes X et Tan W pour différents MN sont des niveaux de dopage à température ambiante. On peut voir à partir de la figure que l'incorporation de Mn diminue le X et le W Tan diminue à mesure que la quantité d'incorporation augmente. Lorsque la quantité de Mn doping ≤ 0,4%, qui appartient aux additifs \"durs \", Mn entre dans le réseau, les échantillons ont montré des caractéristiques de dopage accepteur, de sorte que la constante diélectrique de l'échantillon a diminué; Lorsque le dopage Mn> 0,4%,cristal piézoélectrique à haute fréquence Entre dans la limite des grains, la taille des grains diminue et la distribution des grains est également très inégale, cela réduira également X et Tan W. Les grains plus gros réduisent la contrainte sur les limites des grains pendant la polarisation et diminueront la perte diélectrique, qui est l'une des durées Raisons pour lesquelles le W Tan diminue avec l'augmentation du dopage du MN. La température de Curie dans cette expérience est mesurée en mesurant la courbe relative de la constante diélectrique X et de la température T pour mesurer la courbe de dopage Piezoélectrique Quaternaire TC, la courbe de dopage. La loi du changement de TC est exactement le contraire.